1、ECC介绍

ECC，Error Checking and Correcting，是用于内存存储的数据不稳定时，发生错误时可以进行检查和纠正，ECC是基于奇偶校验的原理，多用于FLASH和SRAM中。

1.1 纠一检二（SEC-DED）

（1）SEC-DED可以纠正1bit错误，检查2bit错误但是不能纠正，ECC算法原理是根据汉明(Hamming)编码实现

2^k-1≥n+k（其中n位要校验的二进制位数，k是要加入的校验位）
例如以8‘b1100_0010为例，n=8，则最小k=4满足；
根据汉明编码的原理，参考下图所示
P1表示第1位为1，序号1，3，5，7，9，11；
P2表示第2位为1，序号2，3，6，7；
P3表示第3位为1，序号4，5，6，7；
P4表示第4位位1，序号8，9；

（2）需要注意的是，默认先把校验码P1~4设置为0，依次对上述序号的值进行校验（校验结果使其为偶数个1），那么P1=1，P2=1，P3=1，P4=0

（3）这里还需要加入一个总校验和PP，使得总数据1个数为偶数个，因此PP=0；

1.2 纠正步骤

（1）如果单bit错误，D3发生翻转，那么P1=1结果仍然是正确的，P2错误，P3错误，P4正确，错误为1，正确为0，P4~P0的正确/错误逻辑组合成为4‘b0110就对应序号6，也就是D3数据错误，那么可以纠正，注意PP=0也是不正确的；

（2）如果发生双bit错误，PP=0是正确，但是奇偶校验位报错，因此判定为双bit错误；细心的读者会发现汉明编码原理-单bit纠错类似于二分法，逼近找到错误bit，因此适用于32，64，128bit等数据校验；
（3）汉明距离就是两个码不同的数的个数；

1.3总结

（1）所有的校验位正确，则数据正确；
（2）PP错误，其他校验位错误，则出现单bit错误；
（3）PP正确，其他校验位错误，则出现双bit错误；
（4）PP错误，其他校验位正确，则PP数据错误；